大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价检查。欢迎新老客户来电咨询！
测量示例：
SiO 2 SiN [FE-0002]的膜厚测量
半导体晶体管通过控制电流的导通状态来发送信号，但是为了防止电流泄漏和另一个晶体管的
OPTM设备
大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价检查。欢迎新老客户来电咨询！
测量示例：
SiO 2 SiN [FE-0002]的膜厚测量
半导体晶体管通过控制电流的导通状态来发送信号，但是为了防止电流泄漏和另一个晶体管的电流流过任意路径，有必要隔离晶体管，埋入绝缘膜。 SiO 2（二氧化硅）或SiN（氮化硅）可用于绝缘膜。 SiO 2用作绝缘膜，而SiN用作具有比SiO 2更高的介电常数的绝缘膜，或是作为通过CMP去除SiO 2的不必要的阻挡层。之后SiN也被去除。 为了绝缘膜的性能和精准的工艺控制，有必要测量这些膜厚度。
膜厚测试仪的预热 关机超过3个小时开机必做。点击“波数”，将波谱校准片放入仪器，将Ag部分移至十字线中间，镭射聚焦，设定测量时间为6S重复测量次数为30~50次,点击Go键，等待自动连续测量完成。
膜厚仪在电气安全方面按照要求正常使用仪器，就不会对人造成任何危险或损害。膜厚仪包含传导线电压的元件，它是按照准则的安全条款设计的。必须遵循仪器安全条款和准则有关仪器操作的规定！ 电源连接为避免损坏仪器,供电电压必须与膜厚仪铭牌上的电压一致。仪器必须使用三相插头连到一个已接地的插座上。
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