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海南封装用IGBT测试仪批发厂家实力雄厚 华科半导体测试仪

3.6 VCES 集射极截止电压 0~5000V 集电极电流ICES: 0.01~1mA±3%±0.001mA; 1~10mA±2%±0.01mA; 10~50mA±1%±0.1mA; 集电极电压VCES: 0-5000V±1.5%±2V; * 3.7 ICES 集射极截止电流 0.01~50mA 集电极电压VCES: 50~500V±2%±1V; 500~5000V±1.5%±2V;
封装用IGBT测试仪批发

3.6 VCES 集射极截止电压 0~5000V 集电极电流ICES: 0.01~1mA±3%±0.001mA; 1~10mA±2%±0.01mA; 10~50mA±1%±0.1mA; 集电极电压VCES: 0-5000V±1.5%±2V; * 3.7 ICES 集射极截止电流 0.01~50mA 集电极电压VCES: 50~500V±2%±1V; 500~5000V±1.5%±2V; 集电极电流ICES: 0.001~1mA±3%±0.001mA; 1~10mA±2%±0.01mA; 10~150mA±1%±0.1mA; * 3.8 VCE(sat) 饱和导通压降 0.001~10V 集电极电流ICE: 0-1600A 集电极电压VCEs: 0.001~10V±0.5%±0.001V 栅极电压Vge: 5~40V±1%±0.01V 集电极电流ICE: 0~100A±1%±1A;5包装、标志和运输 卖方负责整套设备的包装和运输,并负担由此产生的费用。 100~1600A±2%±2A; * 3.9 Iges 栅极漏电流 0.01~10μA 栅极漏电流IGEs: 0.01~10μA±2%±0.005μA 栅极电压Vge: ±1V~40V±1%±0.1V; Vce=0V; * 3.10 VF 正向特性测试 0.1~5V 二极管导通电压Vf: 0.1~5V±1%±0.01V 电流IF: 0~100A±2%±1A; 100~1600A±1.5%±2A;



主要参数 测试范围 精度要求 测试条件

Vce

集射极电压 150~3300V 150~500V±3%±1V;

500~1000V±2%±2V;

1000~3300V±1%±5V; 150~3300V

Ic

集射极电流 1~200A 1~200A±3%±1A; 1~200A

Vge

栅极电压 -30V~30V -30~0V±1%±0.1V;

0~+30V±1%±0.1V -30V~30V

Qg

栅极电荷 400~20000nC Ig: 0~50A±3%±0.1mA; 400~20000nC

td(on)、td(off)

开通/关断延迟 10~1000ns 10~200±2%±2ns;200~1000±2%±5ns

tr、tf

上升/下降时间 10~1000ns 10~200±2%±2ns;200~1000±2%±5ns;

Eon、Eoff

开通/关断能量 1~5000mJ 1~50mJ±2%±0.1mJ;

50~200mJ±2%±1mJ;

200~1000mJ±2%±2mJ;

1000~5000mJ±1%±5mJ;



产品主要有电力半导体器件、组件、模块(包括IGBT器件、新型SiC器件、功率晶闸管及功率整流管等)的检测及可靠性设备,电气自动化设备,电冶、电化学装置,电力半导体变流装置及各种高、中、低频感应加热电源、感应加热炉,晶闸管高压阀组、GTO、IGBT、IGCT、MOSFET驱动器、远距离光电转换软件控制系统、光电脉冲触发板、IGBT的智能高压驱动板等。高压探头:满足表格4-11动态参数、短路电流、安全工作区测试需求。



4验收和测试 3)验收试验应在-10~40℃环境温度下进行,验收完成后测试平台及外部组件和装置均应安装在买方的位置上。 4)测试单元发货到买方前,卖方应进行出厂试验。卖方出厂试验详细方案应提前提交买方评估,通过买方评估合格后实施方可视为有效试验。1V -30V~30VQg栅极电荷 400~20000nC Ig:0~50A±3%±0。否则,需按买方提出的修改意见重新制定出厂试验方案,直至买方评估合格。





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