一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集,EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
能量色散X荧光光谱仪定义及原理
X射线荧光光谱仪是一种可以对多元素进行同时测定的仪器。试样受X射线照射后，其中各元
镀层测厚仪
一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集,EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
能量色散X荧光光谱仪定义及原理
X射线荧光光谱仪是一种可以对多元素进行同时测定的仪器。试样受X射线照射后，其中各元素原子的内壳层（K，L或M层）电子被激发逐出原子而引起电子跃迁，并发射出该元素的特征X射线荧光。每一种元素都有其特定波长的特征X射线。能散型X射线荧光光谱仪（EDXRF）利用荧光X射线具有不同能量的特点，由探测器本身的能量分辨本领来分辨探测到的X射线。打开测试腔放入标准元素片Ag，通过调整移动平台滑轨和焦距旋钮使软件测试画面清晰7。
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。
能量色散X射线荧光光谱仪广泛应用于电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子等制造领域。
光谱分析仪可以说是检测仪器中的“超能先生”，在生物、能源环境、食品安全等领域都能看到它的身影。以食品检测为例，常买粮食的朋友应该都知道，零食的包装上有一个营养成分表，用来向消费者展示食品中的热量、脂肪、蛋白质、碳水化合物、钠等主要营养成分的含量，而这些数据的获得就离不开光谱分析仪。仪器通过对物品材料发散近红外线，活跃材料中的分子，通过分子振动反射的光纤，根据光线的光学特征识别，由此确认材料的化学成分组成。005mm鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点x射线荧光镀层测厚仪技术参数minimumφ0。
我们身边的仪器远不止此，或许正如动画中超人也有自己办不到的事，科学仪器功能也有限，但相对的，仪器都有各自发光发热的领域。不同的仪器在不同的领域各司其职，守护人类健康，为人类发展出力。
工业时代的科技是现代科技，科技是国之利器，要强大、人民生活要不断改善，必须依托于强大科技。科学仪器在我国科技发展中起到的重要作用是不容忽视的，希望未来能够看到更多拔萃的科学仪器为我国科技发展做出贡献。
江苏一六仪器 XTU系列 XTU-BL X荧光光谱仪
仪器规格：
外形尺寸 ：550 mm x 660mm x 470 mm （长x宽x高）
样品仓尺寸 ：500mm×660 mm ×215mm （长x宽x高）
仪器重量 ：55kg
供电电源 ：交流220±5V
功率 ：330W
环境温度：15℃-30℃
环境相对湿度：<70%
EDX是借助于分析试样发出的元素特征X射线波长和强度实现的， 根据不同元素特征X射线波长的不同来测定试样所含的元素。通过对比不同元素谱线的强度可以测定试样中元素的含量。通常EDX结合电子显微镜使用，可以对样品进行微区成分分析。
常用的EDX探测器是硅渗锂探测器。当特征X射线光子进入硅渗锂探测器后便将硅原子电离，产生若干电子-空穴对，其数量与光子的能量成正比。利用偏压收集这些电子空穴对，经过一系列转换器以后变成电压脉冲供给多脉冲高度分析器，并计数能谱中每个能带的脉冲数。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。
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江苏一六仪器 X射线荧光光谱测厚仪
产品配置
X光金属镀层测厚仪标准配置为：X射线管，正比计数器﹨半导体探测器，高清摄像头，高度激光，信号检测电子电路。
性能指标
X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
X射线管：管电压50KV，管电流1mA
可测元素：CI～U
检测器：正比计数管
样品观察：CCD摄像头
测定软件：薄膜FP法、检量线法
Z轴程控移动高度 20mm
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