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镀层分析仪性价比出众,江苏一六仪器

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们的研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名通力合作,研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪 一六仪器 X荧光光谱测厚仪 镀层分析X射线荧光光谱特点 1.镀层分析、无损,对样品无需任何处理。一般测试一个点只需要
镀层分析仪








江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们的研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名通力合作,研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪

一六仪器 X荧光光谱测厚仪

镀层分析X射线荧光光谱特点

1.镀层分析、无损,对样品无需任何处理。一般测试一个点只需要数10S-1分钟,分析精度高。

2.可测试超薄的镀层。

3.可测试多镀层,分析精度远远高于其他测量方法。

4.可分析合金镀层厚度。如果合金镀层成分稳定,选择合适的对比分析样品,就可以准确的分析出合金镀层的厚度。

5.对于样品可进行连续多点测量,适合分析镀层的厚度分布情况,并可以对样品的复杂面进行测量。

6.对分析的多镀层每层之间的材料,要求有明显的区别

7.不可以测试超厚样品,普通金属镀层总厚度一般不超过40微米。

8.可以对样品进行测试

9.属于对比分析仪器,测试不同的镀层样品需要不同发镀层标样


江苏一六仪器 XTU系列 XTU-BL X荧光光谱仪


仪器规格:

外形尺寸 :550 mm x 660mm x 470 mm (长x宽x高)

样品仓尺寸 :500mm×660 mm ×215mm (长x宽x高)

仪器重量 :55kg

供电电源 :交流220±5V

功率 :330W

环境温度:15℃-30℃

环境相对湿度:<70%


EDX是借助于分析试样发出的元素特征X射线波长和强度实现的, 根据不同元素特征X射线波长的不同来测定试样所含的元素。通过对比不同元素谱线的强度可以测定试样中元素的含量。通常EDX结合电子显微镜使用,可以对样品进行微区成分分析。

常用的EDX探测器是硅渗锂探测器。所以请不要在这样的环境下操作和存放仪器,以避免高温对仪器造成损害。当特征X射线光子进入硅渗锂探测器后便将硅原子电离,产生若干电子-空穴对,其数量与光子的能量成正比。利用偏压收集这些电子空穴对,经过一系列转换器以后变成电压脉冲供给多脉冲高度分析器,并计数能谱中每个能带的脉冲数。

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X荧光光谱仪原理及应用领域

一、简单原理

每个元素受高能辐射激发,即发射出具有一定特征的X射线谱线。通过软件测试分析得出该谱线波长,即可知道是那种元素(定性);通过分析测试其强度,得出该元素含量(定量)。X荧光光谱分析是一种非常常见的分析技术,

二、应用领域

X荧光光谱仪作为一种常见的分析技术手段,在现实生活中有着非常广泛的应用,主要可以分为以下四大类:

1.镀层行业

电镀行业尤其以工业电镀为主,在工业生产中,通常我们为了产品尤其是金属类能达到一定的性能会在其表面镀上另一种金属,这种金属电镀的膜厚往往是受管控,而X荧光光谱仪就是其best的管控者。




2.重金属检测

我们的衣服帽子、喝水的杯子、小孩的玩具等等这些都跟我们有着紧密的关联,但这其中也许就含有对我们人体是有害的重金属,如Cr、Br、Cl、Pb、Hg、Cd、As等长期接触会导致人体的病变甚至,为了使用安全,工业生产时需对产品重金属检测管控(RoHS检测),而X荧光仪器就能对其进行监测。江苏一六仪器X射线荧光光谱仪XTU/X-RAY系列技术参数X射线装置:W靶微聚焦加强型射线管准直器φ0。

3.元素成分分析

元素成分分析应用也是更加广泛,如岩石矿产的开发开采,钢铁、铜合金、铝合金等可能因某一种元素的含量不同就会大大改变其物理性质,为达到这种物理性质就需要控制相关元素的含量,通过X荧光仪器的检测就可以很好的生产出我们所需的物品,另外还可以利用成分分析原理对珠宝首饰进行真假鉴定。X射线荧光光谱法分析镀层与其常规定量分析法相比较,被测元素的特征X射线荧光强度不仅与镀层中待测元素和基材的组成有关,而且与厚度直接相关。

4.古董的检测

X荧光仪器在古董的检测鉴定上也起着重要的作用,通过仪器检测对产品进行定性分析可得其元素成分,从而对产品的年限进行一个判断,得出结论。








江苏一六仪器 X射线荧光光谱测厚仪 一次性同时分析:23层镀层,24种元素

厚度di检出限:0.005um

性能优势

精密的三维移动平台

的样品观测系统

的图像识别

轻松实现深槽样品的检测

四种微孔聚焦准直器,自动切换

双重保护措施,实现无缝防撞

采用高分辨率探测器,有效降低检出限,提高测试精度

全自动智能控制方式,一键式操作!

开机自动退出自检、复位

开盖自动退出样品台,升起Z轴测试平台,方便放样

关盖推进样品台,下降Z轴测试平台并自动完成对焦

直接点击全景或局部景图像选取测试点

点击软件界面测试按钮,自动完成测试并显示测试结果











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