DWS型电容测微仪是电容不接触式通用性精密测量仪器，它既是测振仪，又是测微仪，既能测量动态位移，又能测量静态位移，具有一般非接触式仪器所共有的无磨擦，无磨损和无惰性特点外，还具有信噪比大，灵敏度高，零漂小，频响宽，非线性小，精度稳定性好，抗电磁干扰能力强和使用操作方便等优点，在科学院、工程院、航天、航空、高等院校、研究所、工厂得到广泛应用，成为科研、教学和生产中一种不可缺少的测
福建电容测微仪
DWS型电容测微仪是电容不接触式通用性精密测量仪器，它既是测振仪，又是测微仪，既能测量动态位移，又能测量静态位移，具有一般非接触式仪器所共有的无磨擦，无磨损和无惰性特点外，还具有信噪比大，灵敏度高，零漂小，频响宽，非线性小，精度稳定性好，抗电磁干扰能力强和使用操作方便等优点，在科学院、工程院、航天、航空、高等院校、研究所、工厂得到广泛应用，成为科研、教学和生产中一种不可缺少的测试仪器。仪器远销国内外，收到国内外用户的一致好评。尺寸和形位精度可用电子测微仪、电感测微仪、电容测微仪、自准直仪和激光干涉仪来测量。
1981年美国IBM公司研制成功的扫描隧道显微镜(STM)，将人们带到了微观世界。STM具有极高的空间分辨率(平行和垂直于表面的分辨率分别达到0.1nm和0.01nm，即可分辨出单个原子)，广泛应用于表面科学、材料科学和生命科学等研究领域，在一定程度上推动了纳米技术的产生和发展。随着科学技术的发展，工业生产需要人们对微位移测量的精度和定位的精度提出更高的要求。与此同时，基于STM相似原理与结构，相继产生了一系列利用探针与样品的不同相互作用来探测表面或界面在纳米尺度上表现出来性质的扫描探针显微镜(SPM)，用来获取通过STM无法获取的有关表面结构和性质的各种信息。
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