大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价检查。欢迎新老客户来电咨询！
使用显微光谱法在微小区域内通过绝i对反射率进行测量，可进行高i精度膜厚度/光学常数分析。
可通过非破坏性和非接触方式测量涂膜的厚度，例如各种膜、晶
OPTM设备
大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价检查。欢迎新老客户来电咨询！
使用显微光谱法在微小区域内通过绝
i对反射率进行测量，可进行高
i精度膜厚度/光学常数分析。
可通过非破坏性和非接触方式测量涂膜的厚度，例如各种膜、晶片、光学材料和多层膜。 测量时间上，能达到1秒/点的高速测量，并且搭载了即使是初次使用的用户，也可容易出分析光学常数的软件
为了确保膜厚仪的安全操作，必须注意以下几点： ·始终按照操作手册的要求操作膜厚仪； ·不要损坏安全互锁系统的任何元件，例如微动开关等等； ·不要对膜厚仪做任何改变。
彩色抗蚀剂（RGB）的薄膜厚度测量[FE - 0003]
液晶显示器的结构通常如右图所示。 CF在一个像素中具有RGB，并且它是非常精细的微小图案。 在CF膜形成方法中，主流是采用应用在玻璃的整个表面上涂覆基于颜料的彩色抗蚀剂，通过光刻对其进行曝光和显影，并且在每个RGB处仅留下图案化的部分的工艺。 在这种情况下，如果彩色抗蚀剂的厚度不恒定，将导致图案变形和作为滤色器导致颜色变化，因此管理膜厚度值很重要。
膜厚测试仪调校步骤：选择要调校的产品程式；选择菜单“调校---调校”开始进行“调校”屏幕左下角的指令窗口会出现,按“确定”结束调校。
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