仪一六仪器 精准分析膜厚仪稳定的多道脉冲分析采集系统,的解谱方法，解决各种大小多层多元素的涂镀层厚度分析，
微聚焦射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品,可测试各微小的部件.
测厚仪分类：
一、磁性式
二、涡电流式
三、红外测厚仪
四、电解式（库伦法）
五、金相测试法
六、非破坏荧光式（X光）
具体讲
镀层分析仪
仪一六仪器 精准分析膜厚仪稳定的多道脉冲分析采集系统,的解谱方法，解决各种大小多层多元素的涂镀层厚度分析，
微聚焦射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品,可测试各微小的部件.
测厚仪分类：
一、磁性式
二、涡电流式
三、红外测厚仪
四、电解式（库伦法）
五、金相测试法
六、非破坏荧光式（X光）
具体讲下涡流测厚仪原理如下：
1.涡流测厚仪当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，此涡liu产生的磁场又反作用于探头线圈，使其阻抗发生变化，此变化量与探头线圈离金属表面的距离（即覆盖层的厚度）有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。一六仪器国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪一六仪器研发生产的X荧光光谱仪,稳定的多道脉冲分析采集系统,专利聚焦和变距设计,多元EFP算法,简便测试各种涂镀层的厚度及成分比例性能优势：下照式设计：可以方便地定位对焦样品。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。
2.同位素测厚仪利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。
能量色散X射线荧光光谱仪技术原理
江苏一六仪器 国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪 稳定的多道脉冲分析采集系统,专利聚焦和变距设计,多元EFP算法,简便测试各种涂镀层的厚度及成分比例
能量色散X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。
它由高压发生器和X光管组成。后者功率较大，用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的X射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。
能量色散X射线荧光光谱仪技术原理
能量色散X射线荧光光谱仪是一种波长较短的电磁辐射，凡间是指能t局限在0.1^-100keV的光子。能量色散X射线荧光光谱仪与物质的互相效果首要有荧光、接收和散射三种。
能量色散X射线荧光光谱仪是由物质中的构成元素发生的特征辐射，经过侧里和剖析样品发生的x射线荧光，即可获知样品中的元家构成，获得物质成分的定性和定量信息。
一六仪器 光谱测厚仪研发生产厂家 一六仪器一liu,可同时检测多层材料镀层厚度(含有机物)及成分.操作简单方便.厚度含量测试只需要几秒钟,多小多复杂的样品轻松搞定,欢迎来电咨询!
测厚仪操作规程有哪些？测厚仪在使用过程中，如果操作不规范，很容易导致测厚仪出现故障及问题，因此我们在使用前都需要先了解下测厚仪的操作规范及一些常见问题的处理方法：
一.常见问题的排除方法
常见问题 可能原因 解决办法 测零时，计数为零 源未打开 打开源 探头电源未打开 打开探头电源 显示值与实际值误差较大 零点误差 做零点校正 重新标定，输入新的 参数
二.安全卫生
1、性安全规程
2、禁止将身体的任何部位放入射线区内；
3、禁止操作人员在射线区内长期停留；
4、源保管规程
一六仪器---镀层测厚仪|光谱测厚仪|X-ray测厚仪|X荧光测厚仪|凃层膜厚仪
性能优势：
下照式设计：可以方便地定位对焦样品。
无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。
微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。
精密微型滑轨：精准定位样品。
EFP算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。
如何安装X射线测厚仪
2) C型架按运行轨迹定位，并作感观质量检查。
3) C型架落入导轨后，就进行冷却水管、压缩空气的软管及同轴电缆的连接。上述软管及电缆应顺着挠性履带的走向固定牢固。
4) 仪表柜、主控台，就地控制箱和前置放大器箱的安装，根据现场施工条件分头进行吊装。
5) 电缆敷设，除同轴电缆外还包括控制系统电缆和测量信号系统电缆。
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