一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
X荧光测厚仪相关注意事项：
仪器供电电压必须与仪器上的电压一致.仪器三线插头必须连接到已接地的插座上。
本仪器为精
电镀测厚仪
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
X荧光测厚仪相关注意事项：
仪器供电电压必须与仪器上的电压一致.仪器三线插头必须连接到已接地的插座上。
本仪器为精密仪器,配备的稳压电源.计算机应配备不间断电源(UPS)。
仪器应特别注意与存在电磁的场合隔离开来。
为避免短路,严禁仪器与液体直接接触,如果液体进入仪器,请立即关闭仪器。
本仪器不能用于酸性环境和场合。
不要弄脏和刮擦调校标准片,否则会造成读数错误。
不要用任何机械或化学的方法清除调校片上的脏物,可以用不起毛的布轻轻擦拭。
一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集,EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
定位方式：
1、移动平台：
A、手动（普通和带精密滑轨移动）：装配设计不同精准移位从0.5mm-0.005mm不等，移动的灵动性差距也很大。
B、电动（自动）：装配设计不同精准移位从0.2mm-0.002mm不等
但同样的手动或者自动，其定位精准也相差很多。
2、高度定位：
A、手动变焦和无变焦
B、激光对焦和CCD识别对焦
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。稳定的多道脉冲分析采集系统、的解谱方法和EFP算法结合精准定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、的解谱方法和EFP算法结合精准定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。广泛应用于电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子等制造领域。
一． 磁吸力测量原理镀层厚度分析仪
长久磁铁（测头）与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系，这个距离就是覆层的厚度。利用这一原理制成测厚仪，只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可进行测量。仪器通过对物品材料发散近红外线，活跃材料中的分子，通过分子振动反射的光纤，根据光线的光学特征识别，由此确认材料的化学成分组成。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型，所以磁性测厚仪应用广。测厚仪基本结构由磁钢，接力簧，标尺及自停机构组成。磁钢与被测物吸合后，将测量簧在其后逐渐拉长，拉力逐渐增大。当拉力刚好大于吸力，磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。新型的产品可以自动完成这一记录过程。不同的型号有不同的量程与适用场合。这种仪器的特点是操作简便、坚固、不用电源，测量前无须校准，价格也较低，很适合车间做现场质量控制。
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。
测厚范围可测定厚度范围:取决于用户的具体应用。方便：X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器，能量分辨率更优于135eV，测试精度更高。将列表可测定的厚度范围-基本分析功能无标样检量线测厚，可采用一点或多点标准样品自动进行基本参数方法校正。根据客户本身应用提供必要的校正用标准样品。样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)可检测元素范围:Ti22–U92可同时测定5层/15种元素/共存元素校正组成分析时，可同时测定15种元素多达4个样品的光谱同时显示和比较元素光谱定性分析-调整和校正功能系统自动调整和校正功能:校正X射线管、探测器和电子线路的变化对分析结果的影响，自动消除系统漂移谱峰计数时，峰漂移自动校正功能谱峰死时间自动校正功能谱峰脉冲堆积自动剔除功能标准样品和实测样品间，密度校正功能谱峰重叠剥离和峰形拟合计算-测量自动化功能(要求XY程控机构)鼠标控制测量模式:'PointandShoot'多点自动测量模式:随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式测量位置预览功能激光对焦和自动对焦功能-样品台程控功能(要求XY程控机构)设定测量点OneorTwoDatumn(reference)Pointsoneachfile测量位置预览
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