一六仪器 国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪
一六仪器研发生产的X荧光光谱仪,稳定的多道脉冲分析采集系统,专利聚焦和变距设计,多元EFP算法,简便测试各种涂镀层的厚度及成分比例
性能优势：
下照式设计：可以方便地定位对焦样品。
无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-
镀层膜厚仪
一六仪器 国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪
一六仪器研发生产的X荧光光谱仪,稳定的多道脉冲分析采集系统,专利聚焦和变距设计,多元EFP算法,简便测试各种涂镀层的厚度及成分比例
性能优势：
下照式设计：可以方便地定位对焦样品。
无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。
微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。
率的jie shou qi ：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。
EFP算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。
涂层测厚仪操作规程有哪些
我们在使用涂层测厚仪时，如果不了解涂层测厚仪的操作规程，那么就很容易出现一些问题，甚至严重的可能会对自身产生威胁，那么涂层测厚仪的操作规程有哪些，下面就来了解下先：
三、操作步骤
4. 判断是否需要校准仪器。如果需要，选择适当的校准方法进行校 准；
5. 测量。将测头垂直接触工件的测量面，并轻压测头的加载套，当 测头与被测工件表面接触稳定后，随着一声蜂鸣声，屏幕将显示标识和测量值。如果测量标识闪烁或无测量标识则表示测头不稳定.移开测头后，测量标识消失，厚度值保持。
6. 仪器关机
X射线荧光的基本原理
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X射线荧光是由原级X射线照射待测样品时所产生的次级X射线，入射的X射线具有相对较大的能量，使其可以轰击出位于元素原子内层中的电子。X射线荧光光谱的波长在0.01-10纳米之间，能量在124KeV-0.124KeV之间。用于元素分析中的X射线荧光光谱波长的范围在0.01-11纳米之间，能量为0.111-0.124KeV。
当X射线激发出试样特征X射线时，其入射电磁辐射能量必须大于某一个值才能引起其内层电子激发态从而形成空穴并引起电子的跃迁，这个值是吸收限，相当于内层电子的功函数。如果入射电磁辐射的能量吸收限则在任何情况下都不能激发原子内层电子并产生特征X射线。
一六仪器---镀层测厚仪|光谱测厚仪|X-ray测厚仪|X荧光测厚仪|凃层膜厚仪
仪器规格：
外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （长x宽x高）
样品仓尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （长x宽x高）
仪器重量 ：55kg
供电电源 ：交流220±5V
da功率 ：330W
环境温度：15℃-30℃
环境相对湿度：<70%
测厚仪和膜厚仪一样吗
测厚仪和膜厚仪是不一样的，膜厚仪属于测厚仪的分类，也就是说测厚仪是膜厚仪的上司一样，对此我们也可以来了解下测厚仪跟膜厚仪的一些概念：
测厚仪按原理分类:激光测厚仪、超声波测厚仪、X射线测厚仪、压力测厚仪、白光干涉测厚仪、电解式测厚仪、机械接触式测厚仪。
测厚仪的原理：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量，当探头发射超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过准确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。
一六仪器X射线荧光测厚仪 研发生产厂家 保证
江苏一六仪器有限公司研发的能量色散X荧光光谱仪具有稳定的多道脉冲分析采集系统、的解谱方法和EFP算法结合精准定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析，欢迎来电咨询！
测厚仪分类：1.X射线测厚仪 2.纸张测厚仪 3.薄膜测厚仪 4.涂层测厚仪 5.在线测厚仪 6.超声测厚仪 7.压力测厚仪 8.白光干涉测厚仪 9.电解式测厚仪 10.机械接触式测厚仪
X射线测厚仪：利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。 主要应用行业：有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工.
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