仪一六仪器 精准分析膜厚仪稳定的多道脉冲分析采集系统,的解谱方法，解决各种大小多层多元素的涂镀层厚度分析，
微聚焦射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品,可测试各微小的部件.
测厚仪分类：
一、磁性式
二、涡电流式
三、红外测厚仪
四、电解式（库伦法）
五、金相测试法
六、非破坏荧光式（X光）
具体讲
光谱测厚仪
仪一六仪器 精准分析膜厚仪稳定的多道脉冲分析采集系统,的解谱方法，解决各种大小多层多元素的涂镀层厚度分析，
微聚焦射线装置:可检测面积小于0.002mm2的样品,可测试各微小的部件.
测厚仪分类：
一、磁性式
二、涡电流式
三、红外测厚仪
四、电解式（库伦法）
五、金相测试法
六、非破坏荧光式（X光）
具体讲下涡流测厚仪原理如下：
1.涡流测厚仪当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，此涡liu产生的磁场又反作用于探头线圈，使其阻抗发生变化，此变化量与探头线圈离金属表面的距离（即覆盖层的厚度）有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。涂镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。
2.同位素测厚仪利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。
一六仪器 X-RAY测厚仪研发生产厂家,欢迎来电咨询!
测厚仪,多薄多复杂组合的镀层分析,一六仪器研发生产的仪器都能满足您的使用!
一六仪器提供的测厚仪可测试面积0.002mm和80mm深槽的样品
测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。
测量注意事项：⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。
⒊测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。
江苏一六仪器 国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪 稳定的多道脉冲分析采集系统,专利聚焦和变距设计,多元EFP算法,简便测试各种涂镀层的厚度及成分比例
测厚仪的应用：
1、激光测厚仪是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接，并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。
2、X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，沧州欧谱从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。在线测厚仪优势：在线测厚仪，主要是应用在连续测量多个检测点，实时传出数据到分析终端上来，方便快捷的一种工业级别测厚仪。主要应用行业：有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工
。
X射线荧光的基本原理
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X射线荧光是由原级X射线照射待测样品时所产生的次级X射线，入射的X射线具有相对较大的能量，使其可以轰击出位于元素原子内层中的电子。X射线荧光光谱的波长在0.01-10纳米之间，能量在124KeV-0.124KeV之间。激光测厚仪型号选择方法：1、用户需要告诉激光测厚仪生产厂家测量什么产品的厚度及其抖动、运动速度等。用于元素分析中的X射线荧光光谱波长的范围在0.01-11纳米之间，能量为0.111-0.124KeV。
当X射线激发出试样特征X射线时，其入射电磁辐射能量必须大于某一个值才能引起其内层电子激发态从而形成空穴并引起电子的跃迁，这个值是吸收限，相当于内层电子的功函数。如果入射电磁辐射的能量吸收限则在任何情况下都不能激发原子内层电子并产生特征X射线。该电讯号输给显示器和自动厚度控制系统，以实现对板带厚度的自动厚度控制（AGC）。
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