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ELSZ粒径设备仪的行业须知

此设备可测量浓度低的溶液~浓度高的溶液的ZETA电位粒径及分子量。 ZETA电位测量原理:电气泳动光散射法 对溶液中的粒子施加电场,便可观测到粒子所带电荷的电气泳动。因此,可从此电气泳动速度中求出ZETA电位电气泳动移动度。 电气泳动光散射法,是用光照射做电气泳动的粒子,根据所得到的散射光的多i普勒转换量求电气泳动度。因此,也被称作激光
ELSZ粒径设备仪


此设备可测量浓度低的溶液~浓度高的溶液的ZETA电位粒径及分子量。





ZETA电位测量原理:电气泳动光散射法


对溶液中的粒子施加电场,便可观测到粒子所带电荷的电气泳动。因此,可从此电气泳动速度中求出ZETA电位电气泳动移动度。

电气泳动光散射法,是用光照射做电气泳动的粒子,根据所得到的散射光的多i普勒转换量求电气泳动度。因此,也被称作激光多i普勒法。






分子量测量原理:静的光散射法(光子相关法)




静的光散射法作为简便的测量分子量的手法而被人们熟知。

测量原理指的是用光照射溶液中分子,根据所得的散射光的求出分子量。即,利用了大分子所得散射光强,小分子所得散射光弱的现象进行测量。

实际上,浓度不同,所得的散射光強度也不同。因此,要实测数点的不同浓度的溶液散射強度,并根据以下公式,横轴设为浓度,纵轴设为散射強度的倒数,

Kc/R(θ)为plot。这被称作Debye plot。

浓度为零,外插切片(c=0)的倒数,并求出分子量Mw,根据初期斜面求出第二维里系数A2。

分子量为大分子时,散射強度出现角度依存性,通过测量不同的散射角度(θ)的散射强度,可知出分子量的测量精度提高,及分子大范围的指标的惯性半径。

角度固定测量时,输入推算的惯性半径,并对角度依存测量进行相应的补正,便可提高分子量的测量精度。















粒径测量原理:动态光散射法(光子相关法)

溶液中的粒子会呈现出 依赖于粒径的布朗运动。因此,当光照射到此粒子上而得到的散射光会出现浮动,小粒子浮动速度快,大粒子浮动速度慢。

通过光子相关法解析这种浮动,从而求出粒径或粒度分布。


电气浸透流的多成分解析的应用

因ELSZ serie实测了cell内的多个点的表面的电气泳动移动度,在测量数据内可确认出ZETA电位分布的在现性及判断噪音峰值。











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