光学影像测量仪检测是一种常见测量技术，通过提供了量化的图像测量方式，获得测量数据，从而对零部件公差尺寸进行把控，是机械、电子制造业，计量测试所广泛使用的一种多用途计量仪器。
影像测量仪的误差来源有哪些呢？ （1）光栅尺记数的偏差; （2）操作台挪动时存有的平行度、角摆产生的偏差; （3）操作台两精l确测量轴平整度带的偏差; （4）摄像镜头直线光轴与操作台不垂直带的偏差;
3D形貌测量仪报价
光学影像测量仪检测是一种常见测量技术，通过提供了量化的图像测量方式，获得测量数据，从而对零部件公差尺寸进行把控，是机械、电子制造业，计量测试所广泛使用的一种多用途计量仪器。
影像测量仪的误差来源有哪些呢？ （1）光栅尺记数的偏差; （2）操作台挪动时存有的平行度、角摆产生的偏差; （3）操作台两精
l确测量轴平整度带的偏差; （4）摄像镜头直线光轴与操作台不垂直带的偏差; （5）精
l确测量工作温度转变产生的偏差; （6）灯源照明灯具标准的转变产生的自动对焦和指向偏差。
三维形貌测量仪对于样品表面特性研究案例
材料科学的目标是研究材料表面结构对于其表面特性的影响。因此，高分辨率分析表面形貌对确定表面粗糙度、反光特性、摩擦学性能及表面质量等相关参数具有重要意义。
符合的NanoFocus测量系统适用于各种不同材料的测量需求，满足满足规格要求并使工艺流程优化，这意味着在缩短开发时间的同时降低成本。
适用于各种材料的非接触式三维表面分析NanoFocus测量系统能够、有效地对几乎所有材料——从金属、玻璃、陶瓷、半导体、聚合物到有机材料——进行三维表面分析。共焦技术能够测量各种表面反射特性的材料并获得有效的测量数据。采用NanoFocus技术的μsurf、μscan和μsprint能够在生产和加工的不同阶段对敏感表面进行无损测量，透明涂层表面和层厚也可以同时测量。
无需样品制备即可在几秒钟内获取真正的3D数据，进而对表面进行定性和定量的评估。NanoFocus为测量数据的分析提供了强大的综合软件解决方案以便确定相关参数。
随着半导体技术的电子技术工艺的发展，电子产品都往小型化，轻薄化发展。iWatch的一经推出，穿戴电子产品成为了一个新的电子设备应用潮流。随着电子产品的小型化，器件体积越做越小，空间就紧凑起来，这对器件加工尺寸及工艺的容差要求就越来越高。
这款仪器采用非接触式线光谱共焦扫描技术，能够高
l精度还原产品的3D结构，对肉眼不可见的结构缺陷都能准确检测。因为具有较快的扫描速度，微米级别的精度和超
l强的稳定性，一经推出立马成为精密生产商的新宠。在精密铸件、精密点胶、3D玻璃，半导体缺陷检测和多层光学薄膜厚度检测，就是这款产品的主要应用领域。
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