一六仪器 国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪 稳定的多道脉冲分析采集系统,专利聚焦和变距设计,多元EFP算法,简便测试各种涂镀层的厚度及成分比例
测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。
测量注意事项：1.测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。
2.测量时要注意不要
电镀测厚仪
一六仪器 国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪 稳定的多道脉冲分析采集系统,专利聚焦和变距设计,多元EFP算法,简便测试各种涂镀层的厚度及成分比例
测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。
测量注意事项：1.测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。
2.测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
3在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数
4.在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。
能量色散X射线荧光光谱仪技术原理
江苏一六仪器 国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪 稳定的多道脉冲分析采集系统,专利聚焦和变距设计,多元EFP算法,简便测试各种涂镀层的厚度及成分比例
能量色散X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。
它由高压发生器和X光管组成。后者功率较大，用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的X射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。
能量色散X射线荧光光谱仪技术原理
能量色散X射线荧光光谱仪是一种波长较短的电磁辐射，凡间是指能t局限在0.1^-100keV的光子。能量色散X射线荧光光谱仪与物质的互相效果首要有荧光、接收和散射三种。
能量色散X射线荧光光谱仪是由物质中的构成元素发生的特征辐射，经过侧里和剖析样品发生的x射线荧光，即可获知样品中的元家构成，获得物质成分的定性和定量信息。
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影响涂层测厚仪精准度的因素有哪些
影响涂层测厚仪精准度的因素有哪些？生产产品过程中，可能就因为一点点的误差，可能这批产品就成了报废品，而这种情况在批量生产的厂家中为常见，也是需要注意的一个点。因此我们也就得对影响涂层测厚仪精准度的因素有所了解了。
(4) 在系统校准时没有选择合适的基体。基体较面为7mm，较小厚度为0.2mm，此临界条件测量是不可靠的。
(5)仪器发生故障。此时可以和技术人员交流或者返厂维修。
X射线荧光的基本原理
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X射线荧光是由原级X射线照射待测样品时所产生的次级X射线，入射的X射线具有相对较大的能量，使其可以轰击出位于元素原子内层中的电子。X射线荧光光谱的波长在0.01-10纳米之间，能量在124KeV-0.124KeV之间。用于元素分析中的X射线荧光光谱波长的范围在0.01-11纳米之间，能量为0.111-0.124KeV。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接，并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。
当X射线激发出试样特征X射线时，其入射电磁辐射能量必须大于某一个值才能引起其内层电子激发态从而形成空穴并引起电子的跃迁，这个值是吸收限，相当于内层电子的功函数。如果入射电磁辐射的能量吸收限则在任何情况下都不能激发原子内层电子并产生特征X射线。江苏一六仪器有限公司是一家拥有的技术，you秀的良将，严格的企业管理的公司。
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