X射线荧光的基本原理
镀层测厚仪|光谱测厚仪|X-ray测厚仪|X荧光测厚仪|凃层膜厚仪---一六仪器 欢迎咨询联系
X射线荧光是由原级X射线照射待测样品时所产生的次级X射线，入射的X射线具有相对较大的能量，使其可以轰击出位于元素原子内层中的电子。X射线荧光光谱的波长在0.01-10纳米之间，能量在124KeV-0.124KeV之间。用于元素分析中的X射线荧光光谱波长
光谱测厚仪
X射线荧光的基本原理
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X射线荧光是由原级X射线照射待测样品时所产生的次级X射线，入射的X射线具有相对较大的能量，使其可以轰击出位于元素原子内层中的电子。X射线荧光光谱的波长在0.01-10纳米之间，能量在124KeV-0.124KeV之间。用于元素分析中的X射线荧光光谱波长的范围在0.01-11纳米之间，能量为0.111-0.124KeV。测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。
当X射线激发出试样特征X射线时，其入射电磁辐射能量必须大于某一个值才能引起其内层电子激发态从而形成空穴并引起电子的跃迁，这个值是吸收限，相当于内层电子的功函数。如果入射电磁辐射的能量吸收限则在任何情况下都不能激发原子内层电子并产生特征X射线。能量色散X射线荧光光谱仪技术原理能量色散X射线荧光光谱仪是一种波长较短的电磁辐射，凡间是指能t局限在0。
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X射线测厚仪测量精度的影响因素有哪些
我们要保证生产的产品厚度上是否可以，那么X射线测厚仪测量的精度是否准确就非常重要了，如果X射线测厚仪的测量精度发生了偏差，那么生产出来的产品就不会！操作步骤1、开机:扫描仪：首先确定扫描移动部分位于两个光电开关之间，打开电控箱急停开关，然后按下“自动”红色按钮。由此可知测厚仪的测量精度有多么重要，因此，这次在这与大家分享下X射线测厚仪测量精度的影响因素有哪些:
首先,是X射线的高压控制箱会对测量的精度造成一定的影响；
第二,在X射线测厚仪通过施加高压释放出X射线时,X射线途经环境的温度湿度也会影响X射线对被测物体的测量；
第三,在测量过程中,被测物体上,可能会有附着物,也会影响测量的精度；
第四,在生产过程中,补偿值也会对X射线测厚仪的测量精度造成影响。
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仪器规格：
外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （长x宽x高）
样品仓尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （长x宽x高）
仪器重量 ：55kg
供电电源 ：交流220±5V
da功率 ：330W
环境温度：15℃-30℃
环境相对湿度：<70%
第四,在生产过程中,补偿值也会对X射线测厚仪的测量精度造成影响。我们利用测厚仪测量是,会事先给测厚仪输入一个补偿值,让测量值与实际值相等。在这个过程中,操作者首先对板材进行测量,但是操作者使用量尺的方式不同,就会造成补偿值的大小不等,会形成人为的误差。其中，x射线测厚仪还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。只有在进行测量时,操作者认真操作,减少补偿值得测算误差,使补偿值接近真实值,提高X射线测厚仪的测量精度。
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