一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
X荧光测厚仪可调整测量位置，非常敏捷。或是测量位置已完成登陆时，可连续自动测定，利用座标补正、连结频道，来应付各种测量轨迹。亦可用自动测定来作标准片校正。
镀层测厚仪
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
X荧光测厚仪可调整测量位置，非常敏捷。或是测量位置已完成登陆时，可连续自动测定，利用座标补正、连结频道，来应付各种测量轨迹。亦可用自动测定来作标准片校正。
测定部显示尽像的表示：X线照射部可由WINDOWS画面上取得照射部的表示。从准仪照射测定物的位置，可由倍率率更机能来实现尽面上测出物放大。。。
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层,24种元素 厚度检出限:0.005um
（一）、内部结构
X荧光光谱测厚仪机型很多，但是其内部结构如果先天不足，后期的外部结构无论自动化多高，也无法完全满足客户需求。内部结构重要的3点：
1、X荧光发射和CCD观测是否同步和垂直？
2、测试样品是否可以变化测头到样品的距离？
3、X光照射面积从出口到样品的扩散情况。
（二）、各种内部结构的优缺点
1、X荧光发射和CCD观测样品只有同步且垂直才不会因为样品的高低深浅变化而改变测试到样品的位置，才能保证定位精准，同时减少与探测器或计数器的夹角，夹角小测试时
受样品曲面或者倾斜影响小。
2、测试样品距离可变化才能测试高低不平带凹槽的样品工件，同时也兼顾好平面样品的测试。但是它需要配备变焦镜头和变焦
补偿射线的算法。
3、X光照射面积从出口到样品的扩散过于严重会导致无法测试样品工件上较小的平面位置，如果减小出口（准直器直径），又会严重耗损X光的强度。
因此一台此类仪器的小准直器不是关键，但是测试面积却是个重要的指标。
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪
X射线荧光光谱测厚仪定量分析
利用荧光X射线进行定量分析的时候，大致分为3个方法。一个是制作测量线的方法(经验系数法)。这个方法是测定几点实际的已知浓度样品，寻求想测定元素的荧光X射线强度和浓度之间的关系，以其结果为基础测定未知样品取得荧光X射线，从而得到浓度值。
另一个方法是理论演算的基础参数法(FP法)。这个方法在完全了解样品的构成和元素种类前提，利用计算的各个荧光X射线强度的理论值，推测测定得到未知样品各个元素的荧光X射线强度的组成一致。
江苏一六仪器 X射线荧光镀层测厚仪 元素分析范围：氯（CI）- 铀（U）
厚度分析范围：各种元素及有机物
x射线荧光镀层测厚仪（国产）是一款针对金属电镀层（镀金、镀镍、镀锌、镀锡等）厚度的，通过X荧光照射出产品，每个元素反射出的二次特征谱线，通过检测器分析出强度来金属镀层的厚度，完全达到无损、分析的效果，产品广泛应用于电子电器、五金工具、电镀企业（铝平行管、电镀五金），连接器企业、开关企业等。2．标准块的选择可用标准块的单位面积厚度单位校准仪器，厚度值必须伴随着覆盖层材料的密度来校正。
x射线荧光镀层测厚仪性能优势
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
minimum φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点x射线荧光镀层测厚仪技术参数
一次可同时分析多达五层镀层
度适应范围为15℃至30℃
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
分析含量一般为2ppm到99.9%
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