一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集,EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
定位方式：
1、移动平台：
A、手动（普通和带精密滑轨移动）：装配设计不同精准移位
荧光测厚仪
一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集,EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
定位方式：
1、移动平台：
A、手动（普通和带精密滑轨移动）：装配设计不同精准移位从0.5mm-0.005mm不等，移动的灵动性差距也很大。
B、电动（自动）：装配设计不同精准移位从0.2mm-0.002mm不等
但同样的手动或者自动，其定位精准也相差很多。
2、高度定位：
A、手动变焦和无变焦
B、激光对焦和CCD识别对焦
这些方法中种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、、实用化的方向进了一步。任选靶材：W、Mo、Ag等X射线管：管电压50KV，管电流1mA可测元素：CI～U检测器：正比计数管样品观察：CCD摄像头测定软件：薄膜FP法、检量线法Z轴程控移动高度20mm。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用广泛的测厚仪器。采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。对于PCB生产企业来说，厚度的有效控制能做到有效的节约成本，又能满足客户需求，做到耐氧化、等。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、的解谱方法和EFP算法结合精准定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。广泛应用于电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子等制造领域。
一． 磁吸力测量原理镀层厚度分析仪
长久磁铁（测头）与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系，这个距离就是覆层的厚度。8mm610mmx610mm300mmx300mm-Z轴程控移动高度43。利用这一原理制成测厚仪，只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型，所以磁性测厚仪应用广。测厚仪基本结构由磁钢，接力簧，标尺及自停机构组成。磁钢与被测物吸合后，将测量簧在其后逐渐拉长，拉力逐渐增大。当拉力刚好大于吸力，磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。新型的产品可以自动完成这一记录过程。不同的型号有不同的量程与适用场合。这种仪器的特点是操作简便、坚固、不用电源，测量前无须校准，价格也较低，很适合车间做现场质量控制。
江苏一六仪器 X荧光光谱测厚仪
下照式设计：可以方便地定位对焦样品。
无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。
微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。
接收：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。
精密微型滑轨：精准定位样品。
EFP算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。
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