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封装用IGBT测试仪厂家“本信息长期有效”

(2)主要技术参数 1)基本参数 功率源: 5000V 1200A 2)栅极-发射极漏电流IGES IGES: 0.1-10uA±2%±0.01uA 集电极电压VCE: 0V 栅极电压Vge: 0-40V±3%±0.1V 3)集电极-发射极电压 集电极电压VCES: 100-5000V±2%±10V 集电极电流ICES: 0.1-5mA±3%±0.01mA 栅极电压Vg
封装用IGBT测试仪厂家

(2)主要技术参数 1)基本参数 功率源: 5000V 1200A 2)栅极-发射极漏电流IGES IGES: 0.1-10uA±2%±0.01uA 集电极电压VCE: 0V 栅极电压Vge: 0-40V±3%±0.1V 3)集电极-发射极电压 集电极电压VCES: 100-5000V±2%±10V 集电极电流ICES: 0.1-5mA±3%±0.01mA 栅极电压Vge: 0V 4)集电极-发射极饱和电压VCESat VCESat:0.2-5V 栅极电压Vge: ±15V±2%±0.2V 集电极电流ICE: 10-1200A±2%±1A 5)集电极-发射极截止电流ICES 集电极电压VCE: 100-5000V±3% 集电极电流ICES: 0.1-5mA±3%±0.01mA 栅极电压VGE: 0V 6)栅极-发射极阈值电压 VGEth: 1-10V±2%±0.1V Vce: 12V 集电极电流ICE: 30mA±3% 7)二极管压降测试 VF: 0-5V±2%±0.01V IF: 0-1200A±2%±1A Vge: 0V



测试参数: ICES 集电极-发射极漏电流 IGESF 正向栅极漏电流 IGESR 反向栅极漏电流 BVCES 集电极-发射极击穿电压 VGETH 栅极-发射极阈值电压 VCESAT 集电极-发射极饱和电压 ICON 通态电极电流 VGEON 通态栅极电压 VF 二极管正向导通压降 整个测试过程自动完成,电脑软件携带数据库管理查询功能,可生成测试曲线,方便操作使用。5雪崩技术条件 1、Vce:50~500V±3%±5V500~1000V±3%±5V 2、Ic:1A~50A 1A~9。



如何检测元件有老化的现象? 半导体元件有许多参数都很重要,有些参数如:放大倍率,触发参数,闩扣,保持参数,崩溃电压等,是提供给工程师在设计电路时的依据,在检测元件是否有老化的现象时,仅须测量导通参数及漏电流二项即可。工作湿度 9)尖峰抑制电容 用于防止关断瞬态过程中的IGBT器件电压过冲。将量测的数据与其出厂规格相比较,就可判定元件的好坏或退化的百分比。 何谓半导体元件的参数?对元件使用上有何重要性? 中大功率的元件仅在功能上的完好是不够的,因其必须承受规格上的电压与电流,在某条件下,承受度的数据便称为此元件的参数。若元件的工作条件超过其参数数据,元件可能会立刻烧毁或造成性的损坏。



11)动态测试续流二极管

用于防止测试过程中的过电压。

压降小于1V

浪涌电流大于20kA

反向恢复时间小于2μs

工作温度 室温~40℃

工作湿度 <70%

12)安全工作区测试续流二极管

浪涌电流 大于20kA

反向恢复时间 小于2μS

工作湿度 <70%

13)被测器件旁路开关

被测安全接地开关,设备不运行时,被测接地。

电流能力 DC 50A

隔离耐压 15kV

响应时间 150ms

工作方式 气动控制

工作气压 0.4MPa

工作湿度 <70%





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