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ICP是利用电感耦合等离子体作为激发源，根据处于激发态的待测元素原子回到基态时发射的特征谱线对待测元素进行分析的方法。可进行多元素同时分析。很低的检测限。稳定性很好，精密度很高，定量分析效果好。对非金属元素的检测灵敏度低。如想了解更多铜粉的相关信息，欢迎致电铜基粉体进行咨询，我们将会竭诚为您解答与服务。

超细铜粉粉体在液体里的分散的方法相关介绍

加入分散剂。有些样品需要采用化学分散的方法，加入适量的分散剂改善颗铜粉粒表面的电性能以维持分散状态；

表面预处理。有些样品与介质之间不亲和，表现为浮在水面，需要在入水前加入少量的乙醇或其他表面处理剂进行预处理，以便使其在水中易于分散。

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纳米铜粉材料的常用检测方法的介绍

扫描电子显微镜 SEM(Scanning Electron Microscope)：

SEM用一束极细的电子束扫描样品，在样品表面激发出次级电子，次级电子的多少与电子束入射角有关，即与样品的表面结构有关，次级电子由探测体收集，并被闪烁器转变为光信号，经光电倍增管和放大器转变为电信号控制荧光屏上电子束强度，得到与电子束同步的立体扫描图像。SEM反映的是样品表面结构。


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