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内容摘要：
X射线测厚仪结构一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) ? 厚度分析范围:各种元素及有机物一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um（一）、外部结构原理图X荧光做镀层分析时，根据射线是至上而下照射样品，测厚仪厂家，还是至下而上照射样品的方式，将X荧光分析仪的外部整体结构分为：上照射和下照射两种结构。（二）、各种外部结构的特......
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