X射线测厚仪结构一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) ? 厚度分析范围:各种元素及有机物一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um（一）、外部结构原理图X荧光做镀层分析时，根据射线是至上而下照射样品，测厚仪厂家，还是至下而上照射样品的方式，将X荧光分析仪的外部整体结构分为：上照射和下照射两种结构。（二）、各种外部结构的特点1、上照射方式? ?用于照射(激发)的X射线是采用由上往下照射方式的设备称为上照射仪器。此类设备的Z轴为可移动方式，用于确定射线照射光斑的焦点，确保测量的准确性。①、Z轴的移动方式? ?根据Z轴的移动方式，分为自动和手动两类；自动型的设备完全由程序与自动控制装置实现，其光斑对焦的重现性与准确度都很高，而且使用非常简便（一般是与图像采集系统与控制系统相结合的方式），一般只需要用鼠标在图像上点击一下即可定位。此类设备对于测试形状各异的样品非常方便，也是目前主流的分析设备类型。? ?手动型设备，一般需要用人观察图像的方式，根据参考斑点的位置，手动上下调节Z轴方向，以达到准确对焦的目的。因此，往往在测试对象几何结构基本上没有变化的情况下使用比较快捷。②、X、Y轴水平移动方式水平移动方式一般分为：无X、Y轴移动装置；手动X、Y轴移动装置；电动X、Y轴移动装置；全程控自动X、Y轴移动装置。这几类的设备都是根据客户实际需要而设计的，例如：使用无X、Y轴移动装置的也很多，结构简单，样品水平移动完全靠手动移动，这种设备适合于样品面积较大，定位比较容易的测试对象。 ?
? ?江苏一六仪器有限公司? 镀层测厚检测? ?欢迎来电详询！?? X射线荧光光谱分析可以非破坏性同时完成组分和厚度测试，膜厚测试仪，厚度的测量范围视材料和元素而定，通常在1nm-50um之间。X射线荧光光谱法分析镀层与其常规定量分析法相比较，被测元素的特征X射线荧光强度不仅与镀层中待测元素和基材的组成有关，而且与厚度直接相关。能量色散X射线荧光光谱分析相对其他分析方法，具有无需对样品进行特别的化学处理、，方便，测量成本低等明显优势，特别适合用于各类相关企业作为过程控制和检测使用。是目前应用为广泛，具有速度快、无损化以及可实现多镀层同时分析等特点。江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪一六仪器? X荧光光谱测厚仪镀层分析X射线荧光光谱特点? ? ?1.镀层分析、无损，光谱分析仪，对样品无需任何处理。一般测试一个点只需要数10S-1分钟，分析精度高。? ? ?2.可测试超薄的镀层。? ? ?3.可测试多镀层，分析精度远远高于其他测量方法。? ? ?4.可分析合金镀层厚度。如果合金镀层成分稳定，选择合适的对比分析样品，温州测厚仪，就可以准确的分析出合金镀层的厚度。? ? ?5.对于样品可进行连续多点测量，适合分析镀层的厚度分布情况，并可以对样品的复杂面进行测量。? ? ?6.对分析的多镀层每层之间的材料，要求有明显的区别? ? ?7.不可以测试超厚样品，普通金属镀层总厚度一般不超过40微米。? ? ?8.可以对极小样品进行测试? ? ?9.属于对比分析仪器，测试不同的镀层样品需要不同发镀层标样 温州测厚仪-一六仪器1-光谱分析仪由江苏一六仪器有限公司提供。温州测厚仪-一六仪器1-光谱分析仪是江苏一六仪器有限公司（www.16elite.com）今年全新升级推出的，以上图片仅供参考，请您拨打本页面或图片上的联系电话，索取联系人：邓女士。 产品：一六仪器供货总量：不限产品价格：议定包装规格：不限物流说明：货运及物流交货说明：按订单
