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内容摘要：
采样的时间间隔 Δt 决定着采样的质量和数据处理的总时间。Δt 太小，会使x（nΔt）的数目剧增，增加了数据处理的工作量，并要求计算机的容量要大；但Δt 太大，会在原始数据中引起低频和高频分量的混淆，不能真实反映原信号x（t）的全部情况，影响分析的精度。LMS SCADSⅢ316每通道有独立的16bitA/D，有DSP 功能，采样频率为200Ks/s，通过SCSI 接口直接传送到硬盘。特别适合高速、大容量数据采集。 叶片固有频率测试分析已成为叶片检验程序中的环节之一。测试方法多采用频谱分析法，即给叶片一个初始位移(或力)激励，使其产生衰减振动，叶片裂纹故障检测，通过测量叶片的位移响应并对其进行频谱分析，即得到被测叶片的固有频率。测试设备主要包括位移传感器、数据采ji器和频谱分析软件。现有的测试系统没有充分考虑叶片频率测试分析的特殊性，不构成一个完整的测试分析系统。用于检测涡轮机转子......
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