真空袋薄膜体积电阻率的测定将数层 100mm×100mm试样放在直径80mm的下电极上 ，将电极与试样之间的空气排出 ，即完成测试准备工作。测试时按高阻计操作程序进行操作
，测定一分钟充电后试样的电阻值 ，然后测定三厚度由于材 料的结晶情况和薄膜的性能有关 ，真空袋，与薄膜的成型性有关。因此 ，在薄膜的加工过程往往需要及时检测产品及半成品的结晶度。在一般情
况下 ，结晶聚合物不可能完全结晶 ，结晶的程度均是用材料中结晶部分的质量占聚合物的总质量的百分比来表示的。结晶度的测定方法有密度法 (密 度梯度法 )、 X射 线衍射法、红
外光谱法等。其中 ，真空袋批发，由 于密度梯度法投资费用较低 ，目 前被很多薄膜生产厂广泛地使用。
真空袋薄膜采用的湿度发生方法是美准研究院NIsT所推荐的双压力法 ， 控制简便而且稳定;某些设备采用的是双流量法
，类似于冷热水的双阀门调节，真空袋厂家，难以稳定控制 ，真空袋价格，往往达不到它们声明的湿度范围 ，而且它们的湿度传感器没有安装在样品旁边 ，客户无从知晓传感器的准确性。在环境温度中的测试稳定性由于MOCON所用的库仑电量传感器是值传感器
，它的线性关系不受氧气浓度和环境温度变化的影响。普通电化学传感器(非库仑电量法)的透氧仪使用的是相对值传感器 ，传感器外层包覆着一层软膜。由于传感器位于仪器的机箱中
，传感器温度会随环境温度而变化 ，这个软膜自身的透氧率也会因而变化 ，这样传感器测试精度就很容易受环境温度变化的影响。标准实验室的环境温度变化在4℃之间(± 2℃)，这个微小的温度变化会给这些相对值传感器带来超过0.5mL/(m2·
d)的波动 ，这个波动对高阻隔材料的测试数据会产生很大的影响。
真空袋薄膜试验是在测试仪上进行的。当作用于滑块的拉力大于薄膜接触面的静摩擦力时
，滑块就在平台上作相对运。测试仪上记录开始运动的拉力值为静摩擦力。滑块均匀滑动约100mm距离时 ，克服阻力的平均值为薄膜的动摩擦力。动、静摩擦力与垂直两表面的荷重之比为动、静摩擦系数。.表面粗糙度的测定IsO
R468
表面粗糙度是表示某一测量长度内，薄膜表面微观凹凸的情况。测试时将1⒛ mm× 60mm试样紧贴在电触针式轮廓仪的固定装置上，根据薄膜的平均粗糙度值选用传感器
，开动机器 ，每块试样测定5次 ，每一批薄膜取两块试样。求10次 测定的结果的算术平均值 ，求 得平均粗糙度 Ra。 即Ra是指在测量长度内
，粗 糙度轮廓上各点至中心线距离的算术平均值。
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