Zeta三维光学轮廓仪总代理：王富15195751567 Zeta-20 卓越的三维成像和测量 基于ZDot&8482专利技术，Zeta-20可以对近乎所有材料和结构进行成像分析，从超光滑到高粗糙度、低反射率到高反射率表面、透明到不透明介质。Zeta-20使用模块化设计理念，为用户提供了一系列的硬件和软件选项来满足各种不同的测量需求，所有硬件安装和操作都简单易用。 多功能光学测试
