Zeta三维光学轮廓仪总代理：王富
Zeta-20
卓越的三维成像和测量
基于ZDot&8482专利技术，Zeta-20可以对近乎所有材料和结构进行成像分析，从超光滑到高粗糙度、低反射率到高反射率表面、透明到不透明介质。Zeta-20使用模块化设计理念，为用户提供了一系列的硬件和软件选项来满足各种不同的测量需求，所有硬件安装和操作都简单易用。
多功能光学测试模组
Zeta-20提供多种光学测试技术满足用户各种领域测试需求
ZDotTM Z点阵专利三维成像技术是Zeta所有系列产品的标配技术，Z点阵的明暗场照明方案结合不同物镜帮助客户测量“困难”的表面。
ZIC 干涉反衬成像技术，实现纳米级粗糙度表面的成像及分析。
ZSI 白光差分干涉技术，垂直方向分辨率可达埃级。
ZX5 白光干涉技术，大视场下纳米级高度的理想测量技术。
ZFT 反射光谱膜厚分析技术，集成宽频反射光谱分析仪，可测量薄膜材料的厚度、折射率和反射率
