陶瓷电容器失效原因：银离子迁移的后果。离子迁移可严重破坏正电极表面银层，引线焊点与电极表面银层之间，间隔着具有半导体性质的氧化银，使无介质电容器的等效串联电阻增大，332M1KV陶瓷电容，金属部分损耗增加，陶瓷电容，电容器的损耗角正切值显着上升。由于正电极有效面积减小，电容器的电容量会因此而下降。表面绝缘电阻则因无机
