产品特点非接触式、不破坏样品的光干涉式膜厚计。、高再现性量测紫外到近红外波长反射率光谱，分析多层薄膜厚度、光学常数(n:折射率、k:消光系数)。应用范围■ FPD?LCD、TFT、OLED(有机EL)■ 半导体、复合半导体?矽半导体、半导体雷射、强诱电、介电常数材料■ 资料储存?DVD、磁头薄膜、磁性材料■ 光学材料?滤光片、抗反射膜■ 平面显示器?液晶显示器、薄膜电晶体、OLED■ 薄膜?AR膜
