产品特点非接触式、不破坏样品的光干涉式膜厚计。、高再现性量测紫外到近红外波长反射率光谱，分析多层薄膜厚度、光学常数(n:折射率、k:消光系数)。应用范围■ FPD?LCD、TFT、OLED(有机EL)■ 半导体、复合半导体?矽半导体、半导体雷射、强诱电、介电常数材料■ 资料储存?DVD、磁头薄膜、磁性材料■ 光学材料?滤光片、抗反射膜■ 平面显示器?液晶显示器、薄膜电晶体、OLED■ 薄膜?AR膜■ 其它?建筑用材料 荧光材料样品所反射的激发光，在积分球内壁上反射，并再次照射到荧光材料样品上，发出荧光的现象叫做再激发。为了修正这个荧光发光的成份，FE，如图所示，FE3000，改变Xe激发光（投光用光纤）的角度，将激发光的照射点改为样品口的硫i酸钡（或Spectralon）一面来进行测试。这样可以将对积分球内壁上漫反射引起的再激发荧光成份进行测试，实行修正。半积分球。大塚电子独有专利，提高积分球测试效率一倍，更易于样品的装夹，切换迅速（世界范围内独i家）；(2)多次激发修正。大塚电子独有专利，i大程度降低样品所反射的激发光再次照射样品带来的多次激发， 对粉末和固体测试精度提高明显（世界范围内独i家）；(3)光谱可扩展， 光谱探测范围可扩展至1700nm甚至2550nm.(4) 可以升级配备控温系统（-30℃-300℃）不锈钢样品池及石英材质光学窗口，FE3000设备，光学透过率大于98%，全波段无荧光反应，用于固体、粉末及薄膜样品测试（数量5个），尺寸直径≤10mm FE3000价格-大塚电子(在线咨询)-FE由大塚电子(苏州）有限公司提供。FE3000价格-大塚电子(在线咨询)-FE是大塚电子(苏州）有限公司（www.otsukael.com.cn）今年全新升级推出的，以上图片仅供参考，请您拨打本页面或图片上的联系电话，索取联系人：密先生。 产品：大塚电子供货总量：不限产品价格：议定包装规格：不限物流说明：货运及物流交货说明：按订单
