半导体特性测试仪 （ST-DC2000_X 系列） 可测试 19大类27分类 的大中小功率的半导体分立器件及模块的静态直流参数，（测试范围包括Si（硅）/SiC（碳化硅）/GaN（氮化镓）材料的IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCR
