体电阻率和方块电阻是一个意思，终都会折算到金属电导率，其差异变化会影响金属层电导率波动。电导率波动会直接影响EM结果，例如器件损耗等；线宽波动也会直接对EM结果带来差异影响，例如L、Q等。下面截图是PDK中LDE信息：Peakview软件的配置文件中考虑了LDE，保证精度更接近实测结果。在当前的工艺中，更能提升流片成功率。在一些7nm等工艺中，PDK信息是加密的，这种LDE信息已不能靠人工处理，p
