超大规模集成电路动态老炼与测试 在半导体集成电路国产化、小型化、高集成、要求的趋势下，半异体行业引入了大量新材料、新工艺和新的器件结构，导致集成电路更高的缺陷密度。广电计量提供超大规模集成电路动态老炼与测试技术服务，协助客户保证及提高产品的可靠性和质量的一致性。 分析对象 处理器、存储器、AD/DA、接口芯片等大规模集成电路，DIP、SOP、BGA、PGA、OFP、PLCC、LC
