半导体高低温冲击测试箱均是常用于半导体行业及半导体产品、材料、配件做在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,藉以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化及物理伤害。 半导体高低温冲击测试箱的标准型型号（另：可根据客户要求定做）： AP-CJ80 内箱尺寸：500×400×400 外箱尺寸：1800×1800×1440 AP-CJ150 内箱尺寸：600×500×500 外箱尺寸：
