半导体高低温冲击测试箱均是常用于半导体行业及半导体产品、材料、配件做在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,藉以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化及物理伤害。
半导体高低温冲击测试箱的标准型型号（另：可根据客户要求定做）：
AP-CJ80 内箱尺寸：500×400×400 外箱尺寸：1800×1800×1440
AP-CJ150 内箱尺寸：600×500×500 外箱尺寸：1800×1900×1540
AP-CJ250 内箱尺寸：700×600×600 外箱尺寸：1900×2000×1640
AP-CJ-S-480 内箱尺寸：800×800×750 外箱尺寸：2020×2250×2150
测控系统：
1.控制器：*口7寸触屏中英文显示器+PLC﹙控制软件﹚+温控模块
2.运行方式：程序方式
﹙1﹚控制对象 试验区曝露温度
高温恒温区预热温度
低温恒温区预热温度
低温恒温区除霜温度
﹙2﹚指示精度 0.1℃
﹙3﹚输 入 热电偶 TDIN
