光电测厚法是利用误差≤±0.2um的测试仪器进行检测。薄膜放在磨光的平台上 ，在直径≥2mm的 测量头下 ，使 用 0.1~0.5N的 接触压力 ，目测薄膜的厚度。然后进行厚度计算 ，低压塑料袋，计算公式如下 :平均厚度偏差 (%)=± 平均厚度一公称厚度 ×100(6-11) ，定制塑料袋，厚度偏差 (%)=极限厚度一公称厚度 ×100(6-12)式中公称厚度—— 名义厚度 ; 平均厚度—— 勿个厚度测量值的算术平均值 ;极限厚度—— 公称厚度绝x对值。这种方法中 ，通常是用单层薄膜进行测量 ，显示薄膜实际厚度值。
34 ?1.塑料薄膜厚度公差 、塑料薄膜出厂前 ，厚度公差都要经过两次检测 ，第x一次是在薄膜生产过程中，订制塑料袋，利用放x射性同位素或X射线等测厚仪进行在线检测。这种检测目的是在薄膜生成过程中及时控制薄膜的厚度 ，不作为终产品厚度检测仪器。检测的结果是代表薄膜上一个小区域的厚度平均值 ，其精度较差。第二次是在薄膜出厂前 ，武汉塑料袋，利用光电测厚仪来检测薄膜的厚度公差。其结果代表薄膜的实际厚度值。20 ? 和传统压差法的比较传统的压差法的测试原理相对简单 ，只需要对气压进行精x确的测量 ，而且可以测试材料对多种气体的阻隔性。但是压差法在某准确性及应用方面 ，有着较大的局限性。压差法的测试下限只能达到0.5mL/(m2·d)，再小的透过率数据是不能保证精度的 ，因而压差法已经不能适用于高阻隔材料的检测。这个压差的存在会破坏材料本身的性能结构。压差法不能测试完整的包装件。测试的重复性较差 ，国内外都没有溯源标准膜的供应 ，只能用原厂的参考膜进行验证 ，不同生产商的设备之间没有一个统一的参考值。抽真空技术好坏直接影响到测试准确性和测试效率。在高透过的测试范围里 ，压 差法可以和等压法进行相互印证 ，等 压-库 仑电量传感器法作为一个更精x确、的测试方法 ，利 用其传感器的线性关系来保证了在低透过的测试范围里的测试精度。 低压塑料袋-武汉恒泰隆(在线咨询)-武汉塑料袋由恒泰隆塑料包装有限公司提供。低压塑料袋-武汉恒泰隆(在线咨询)-武汉塑料袋是恒泰隆塑料包装有限公司（www.htlsld.cn）今年全新升级推出的，以上图片仅供参考，请您拨打本页面或图片上的联系电话，索取联系人：许经理。 产品：武汉恒泰隆供货总量：不限产品价格：议定包装规格：不限物流说明：货运及物流交货说明：按订单
